PCE-2000 積分球光色電測試系統(tǒng)
以HAAS-2000高精度快速光譜輻射計為核心的實驗室級解決方案
典型應(yīng)用場景
PCE-2000光色電測試系統(tǒng)主要用于測試OLED的外量子效率、光通量、光效、光功率、相對光譜功率分布、色品坐標(biāo)、色溫、主波長、峰值波長、光譜半寬度、顯色指數(shù)、色純度、紅色比、色容差、電壓、電流、電流密度及電流效率等參數(shù)。
主要特點
一、低雜散光
通過改良設(shè)計后高度匹配度的高精度光柵和科學(xué)級制冷型陣列探測器，并利用BWCT技術(shù)和雜散光校正技術(shù)，HAAS-2000的雜散可以比原有高精度快速光譜儀的十分之一還要低。
二、寬線性動態(tài)測量范圍
與普通陣列探測器相比，HAAS-2000中的科學(xué)級陣列探測器具有更寬的線性動態(tài)范圍，且光學(xué)匹配改造設(shè)計后，儀器的動態(tài)范圍進(jìn)一步拓寬。此外，SBCT技術(shù)也大輻提高了HAAS-2000的線性動態(tài)范圍。
三、毫秒級測試速度
HAAS-2000不僅可以測量光源的穩(wěn)態(tài)特性，而且可以測量它們瞬態(tài)光學(xué)特性，完全符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)的規(guī)定。在儀器的靈敏度范圍內(nèi)，無論被測光的瞬態(tài)脈沖多快（如小于微秒級），儀器均可以通過同步觸發(fā)功能實現(xiàn)快速的全光譜測量。HAAS-2000采用科學(xué)級陣列探測器代替機(jī)械掃描系統(tǒng)，可以在極短的測量時間內(nèi)（毫秒級）完整完成精確測量整個光譜范圍。
四、科學(xué)級測量精度
HAAS-2000專為高精度應(yīng)用場合設(shè)計，通過對世界頂級商用科學(xué)級制冷型陣列探測器和精密光柵進(jìn)行改良設(shè)計，使其更加匹配，再配以精密的光學(xué)系統(tǒng)和電子線路，同時采用多項專利技術(shù)，整個系統(tǒng)可以實現(xiàn)高分辨率、高靈敏度、低噪聲、低雜散光和寬動態(tài)范圍，從而實現(xiàn)精確測量的目的。
五、獲得多項專利和證書
核心光譜儀獲得：國家863計劃研究成果，獲美國專利授權(quán)，“中國專利優(yōu)秀獎”，“國家首批自主創(chuàng)新產(chǎn)品”，“國家重點新產(chǎn)品”榮譽(yù)。
主要技術(shù)指標(biāo)
遠(yuǎn)方公眾號
